Micro e Nanoscopia

Os módulos do Laboratório Associado SisNANO-UFV dispõem das seguintes técnicas e equipamentos.

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MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA (SPM)

Descrição
O microscópio de varredura por sonda utiliza as forças de interação entre uma ponta e a superfície para gerar uma imagem tridimensional da superfície. O tipo de interação define  o modo de operação: STM (tunelamento, AFM (força), MFM (magnética), SKM (elétrica), etc. A resolução lateral da imagem, assim como a resolução vertical pode ser da ordem de angstrons.

Vantagens da técnica

  • Alta resolução lateral e vertical;
  • Requer pouca preparação das amostras em muitas situações;
  • Não destrutiva;
  • Pode ser usada em materiais condutores e isolantes.

Aplicações típicas

  • Perfilometria de superfícies;
  • Medições de rugosidade superficial;
  • Análise microestrutural de materiais metálicos, cerâmicos, semicondutores e poliméricos;
  • Determinação de propriedades mecânicas (rigidez, adesão, atrito) e de forças (elétrica, magnética, etc) em escala nanométrica;
  • Imageamento biológico de alta resolução;

Equipamentos disponíveis

  • Microscópio de Varredura por Sonda NT-MDT Integra Prima

Modos de medida: AFM, STM, MFM, etc .

Contato:
Prof. Maximiliano Luis Munford
E-mail: munford@ufv.br
Tel.: 31 3899-2985

  • Microscópio de Força Atômica Agilent ILM 6000 (acoplado a microscópio de fluorescência Zeiss Axostar Plus).

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MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA (MEV)

Descrição
A microscopia eletrônica de varredura usa um feixe focalizado de elétrons para varrer pequenas áreas de amostras sólidas. Os elétrons secundários emitidos pela amostra são coletados para gerar um mapa das emissões secundárias. Como a intensidade dessas emissões secundárias é muito dependente da morfologia local, o mapa é uma imagem ampliada da amostra. A resolução espacial típica dos microscópios MEV é de 4 nm, podendo alcançar 1nm em alguns MEVs. Os aumentos podem exceder 500.000 vezes. Alguns MEVs podem utilizar os elétrons retro-espalhados e raios-x característicos gerados pelo feixe de varredura para fazer a análise da composição local da amostra.

Vantagens da técnica

  • Aumento de até 30.000x.

Aplicações típicas

  • Imageamento de superfícies.


Equipamentos disponíveis

  • Microscópio Eletrônico de Varredura Leo 1430VP (acoplado a Sonda de raios-X (EDS) IXRF Iridium Ultra).

Contato:
Núcleo de microscopia da UFV (http://www.nmm.ufv.br)
E-mail: nmm@ufv.br
Tel.: 31 3899-3144

  • Microscópio Eletrônico JEOL JSM-6010LA.

Contato:
Prof. Renê Chagas da Silva
E-mail: rene.silva@ufv.br
Tel.: 31 3899-3538

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MICROSCOPIA CONFOCAL DE VARREDURA

Descrição
A microscopia confocal permite sondar estruturas subcelulares ou moléculas em células fixadas ou vivas ou amostras de tecidos empregando corantes fluorescentes. Com a microscopia confocal é possível criar imagens tridimensionais de estruturas microscópicas e acompanhar processos, como reações intracelulares, por longos períodos de tempo. O limite de resolução de um microscópio confocal é de 0,1 a 0,2 µm e sua alta sensibilidade permite captar a fluorescência de uma única molécula.

Vantagens da técnica

  • Capacidade de gerar cortes ópticos e imagens internas de células e tecidos;
  • Reconstrução tridimensional essencial para a localização subcelular de marcadores;
  • Marcação múltipla pelo uso de comprimentos de onda específicos;
  • Imagens digitais e quantitativas;
  • Controle computacional do sistema

Aplicações típicas

  • Múltiplas e imuno marcação;
  • Identificação de organelas e análise de funções subcelulares;
  • Tráfego de proteínas e mobilidade molecular;
  • Localização de genes em cromossomos;
  • Imageamento de células vivas.

Equipamentos disponíveis

  • Microscópio Confocal Zeiss LSM 510 META

Contato:
Prof. Claudine Márcia de Carvalho
E-mail: claudine.carvalho@ufv.br
Tel.: 31 3899-1087